Scios 2 DualBeam FIB雙束電鏡

    Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為的*廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。 Scios 2 DualBeam系統創新性的功能設計，優化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學家和工程師在學術和工業環境中進行高級研究和分析的理想解決方案。
    Scios 2 DualBeam可快速輕松的定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。系統配備Thermo Scientific Auto Slice&View軟件，可以高質量、全自動地采集多種三維信息。無論是在STEM模式下以30kV來獲取結構信息，還是在較低的能量下從樣品表面獲取無荷電信息，系統可在*廣泛的工作條件下提供出色的納米級細節。Scios 2 DualBeam可幫助所有經驗水平的用戶更快、更輕松的獲得高質量、可重復的結果，此外，系統專為材料科學中**挑戰的材料微觀表征需求而設計，配備了全集成化、極快速MEMS熱臺，可在更接近真實環境的工作條件下進行樣品表征。